凌云光MiniLED检测技术为显示品质保

来源：南早网

MiniLED制作工艺中的检测需求

　　MiniLED产品在生产过程关键工艺是将LED灯珠转移到PCB板或玻璃基板，因此，基板来料外观检查、保护膜涂覆后检查、测量、3D锡膏检查、焊剂检查、虚焊检查、产品外观检查、灯珠缺陷、亮度均匀性、色度准确性，以及灯珠区域控制准确性都关系到背光产品的品质。

　　当前市场对MiniLED背光产品需求多集中在中大尺寸，中大尺寸背光基板尺寸大、灯珠数量多、工艺复杂度高，人工目视检测已不能满足现有检测需求，缺陷检测自动化设备可以很好的解决这个问题。

MiniLED背光检测的难点及核心检测技术

　　难点1如何适应MiniLED范围更宽的亮度检查

　　让亮的更亮，让暗的更暗。对于HDR，最重要的是对比度。

　　面对数倍于传统液晶显示器亮度的MiniLED亮度检测，需要采用具有科学级芯片的深度制冷相机，该相机具有超高分辨率、高灵敏度、高信噪比和高动态范围，搭配使用不同层级的中性密度衰减片并采用多次曝光技术，可以适应0.05-nits的背景亮度产品的检查。

　　难点2如何进行色度和亮度测量，保证MiniLED灯珠发光的准确性和一致性

　　在贴合荧光膜、增透膜、扩散膜后，为保证MiniLED背光亮度、色度的均匀性，需要对整个发光面进行均匀性测量，传统的点式色度测量方式无法满足需求。

　　为了使色度检测结果与人对色斑颜色的主观感觉相一致，需要用符合CIE色度标准的面阵成像色度计对其进行检测，亮度测量精度达到±3％以内，色度测量精度达到±0.。

　　难点3MiniLED区别于常规显示屏缺陷判定规则

　　MiniLED相较于常规显示屏（LCD/OLED），在成像上存在较大差异，具体表现为大片黑色背景下，规则排布的LED颗粒，颗粒与颗粒之间存在远大于颗粒尺度本身的间距。因此无法使用传统显示屏检测的方法直接提取显示区域进行检测。MiniLED产品检测基准相较于传统显示屏也存在差异。

　　基于光学对整个显示基板成像，主要有以下检测要求：

　　a、颗粒全亮：检测颗粒不亮、颗粒弱亮/爆亮。

　　对颗粒全部点亮时，拍摄整个显示基板，要求准确提取每个LED的亮度，若单颗LED、单区（例如3*3为一个区块）的亮度超过正常范围，比如过亮或者过暗，则属于异常。

　　b、正反棋盘格：检测颗粒不亮、颗粒弱亮/爆亮、格子显示异常（显示偏移）。

　　c、全黑画面：颗粒全黑，检测颗粒弱亮、闪烁。

　　d、所有颗粒全亮+覆膜：检测亮度均匀性和波动率是否符合检测规格。

　　以9点检测基准为例，对基板上选定特定范围的一系列点，提取每个点的亮度信息，然后代入公式得出均一性与波动率。

凌云光MiniLED背光检测系统

　　随着MiniLED背光出货量不断提升，检测需求也不断增加，凌云光以市场需求为导向，坚持自主研发，不断加强关键核心技术攻关，积极投身MiniLED背光检测和MiniLED直显检测相关技术研究。经过公司研发团队的努力，凌云光首台MiniLED背光检测设备成功通过客户厂验，顺利进入到客户端工厂使用。

凌云光MiniLED检测整体解决方案

　　凌云光MiniLED检测设备是集成AOI、ET、Autolabel，OQA等功能整体解决方案。设备包含上料、主检、电测站点、品质抽检等单元。核心单元可对全亮、全黑、灰阶、奇偶棋盘格、10％Peek窗口、低电流等画面中的各种点、线、Mura（色斑）、颗粒不亮、颗粒弱亮、爆亮、棋盘格显示异常等进行检测。

　　凌云光MiniLED背光检测设备，是基于视觉图像技术、深度学习技术打造的质量检测设备。该系统可以在MiniLED背光产线上安装使用，及时发现不良、精确定位不良，推动产线工艺改进，提升产品质量，提高生产效率。

“0”的突破

　　设备的成功交付，标志着凌云光成功进入到MiniLED行业，在MiniLED检测领域实现“0”的突破。凌云光一直践行“为机器植入眼睛和大脑”，坚持“质量兴业”，攻坚克难，砥砺前行，致力持续引领次世代显示视觉检测市场技术和产品发展趋势。

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